【期刊信息】

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刊名:电子科技
曾用名:电子科技杂志
主办:西安电子科技大学
主管:中华人民共和国教育部
ISSN:1007-7820
CN:61-1291/TN
语言:中文
周期:月刊
影响因子:0.568824
被引频次:33042
数据库收录:
美国剑桥科学文摘(2013);期刊分类:电子信息

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儿科学论文_热性惊厥持续状态复发的危险因素分

来源:电子科技 【在线投稿】 栏目:期刊导读 时间:2021-11-10

作者:网站采编

关键词:

【摘要】文章摘要:正目的探讨儿童热性惊厥持续状态(febrile status epilepticus,FSE)复发的危险因素,为临床决策预防方法提供依据。方法回顾性分析我院2011年11月~2020年1月收治的138例诊断为FSE患儿

文章摘要:<正>目的探讨儿童热性惊厥持续状态(febrile status epilepticus,FSE)复发的危险因素,为临床决策预防方法提供依据。方法回顾性分析我院2011年11月~2020年1月收治的138例诊断为FSE患儿的临床资料、电解质、脑电图及头颅MRI等数据,出院后进行2月~8年4月随访,对FSE复发的相关因素进行单因素分析,并进行多因素Logistic回归分析。结果 138例患儿中,

文章关键词:

论文DOI:10.26914/c.cnkihy.2020.020936

论文分类号:R720.597



文章来源:《电子科技》 网址: http://www.dzkjzz.cn/qikandaodu/2021/1110/1051.html


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